芯片失效分析方法
@巩梁1956：怎样进行芯片失效分析? -
言翁13886756544…… 一般来说,集成电路在研制、生产和使用过程中失效不可避免,随着人们对产品质量和可靠性要求的不断提高,失效分析工作也显得越来越重要,通过芯片失效分析,可以帮助集成电路设计人员找到设计上的缺陷、工艺参数的不匹配或设计与操...
@巩梁1956：电子元器件失效分析方法知多少 -
言翁13886756544…… 典型电子元器件失效分析方法 1、微分析法 (1)肉眼观察是微分析技术的第一步,对电子元器件进行形貌观察线系及其定位失准等,必要时还可以借助仪器,例如:扫描电镜和透射电子显微镜等进行观察; (2)其次,我们需要了解电子元器...
@巩梁1956：电子元器件失效分析 -
言翁13886756544…… 一般的仪器都会一点点的误测率,但既然有五道测试,基本可以消除这种误测,否则就说明你的仪器实在太烂啦!然后就是自动挑选机的问题,有没有误动作的可能性,最好找一个比较大的不良品样本,对机器进行测试.如果上面两项都没有问题,那说明运输和贮存可能初相了问题,当然半导体器件受环境因素的影响是比较小的.最后就有可能是客户和你们的仪器有一定差距,从而造成这种情况.当然还有一种情况,就是本身半导体器件质量有问题,漏电测试是反向加电压,可能就是在测试的过程中器件被击穿的.解决的办法还是要等真正的原因查找出来再说了.
@巩梁1956：工作发现有一颗IC失效怎么分析电路 -
言翁13886756544…… 1.了解工作环境.重点关注与你产品互连的设备、走线、电源、大功率设备、...
@巩梁1956：LED芯片如何检测失效与否? -
言翁13886756544…… 采用LED全自动抽测探针台实现一键式LED芯片失效检测,适用于LED已切割晶粒的全自动点测,集成了智能针痕监控、自动化无损清针(自用专利技术)在内的多项自动化技术可大幅节省人工.
@巩梁1956：桥堆做失效分析时过流失效和过压失效如何和区分? -
言翁13886756544…… 你可以在X光下看到,芯片上会有异常点(黑色的点),在芯片的中间部分出现则是过流失效,在芯片的边缘出现则是过压失效.QQ573257782
@巩梁1956：如何知道IC被静电破坏,外观可看的出吗?测验IC的方法有那些. 谢谢 -
言翁13886756544…… IC被经典破坏,外观是看不出来的,在内部也只是被打出一个小小的斑点而已,很难发现,甚至有的IC功能还是正常的,建议用晶体管图示仪测试每个引脚(或怀疑的引脚)曲线,和正常的IC曲线进行对比,当偏差大于5%的时候就要重点关注了,这是我参加失效分析培训时学到的,实际分析中还未使用过,兄弟有兴趣可以试试.
@巩梁1956：用万用表检测IC芯片的几种简易方法 -
言翁13886756544…… 用万用表检测IC芯片的几种简易方法 1.离线检测 测出IC芯片各引脚对地之间的正,反电阻值.以此与好的IC芯片进行比较,从而找到故障点. 2.在线检测 1)直流电阻的检测法同离线检测一样但要注意: (a)要断开待测电路板上的电源; (b)...
@巩梁1956：在光学显微镜下可以观察到的病毒有多少?大概目前已知病毒种量的多少? -
言翁13886756544…… 病毒是颗粒很小、以纳米为测量单位、结构简单、寄生性严格,以复制进行繁殖的一类非细胞型微生物.多数要用电子显微镜才能观察到 光学显微镜的最高分辨率是0.2um 看不到病毒
@巩梁1956：失效分析的步骤有哪些? -
言翁13886756544…… 失效分析方法与步骤1.背景资料的收集和分析样品的选择2.失效零件的初步检查(肉眼检查及记录)3.无损检测4.机械性能检测5.所有试样的选择、鉴定、保存以及清洗6.宏观检验和分析(断裂表面、二...
言翁13886756544…… 一般来说,集成电路在研制、生产和使用过程中失效不可避免,随着人们对产品质量和可靠性要求的不断提高,失效分析工作也显得越来越重要,通过芯片失效分析,可以帮助集成电路设计人员找到设计上的缺陷、工艺参数的不匹配或设计与操...
@巩梁1956：电子元器件失效分析方法知多少 -
言翁13886756544…… 典型电子元器件失效分析方法 1、微分析法 (1)肉眼观察是微分析技术的第一步,对电子元器件进行形貌观察线系及其定位失准等,必要时还可以借助仪器,例如:扫描电镜和透射电子显微镜等进行观察; (2)其次,我们需要了解电子元器...
@巩梁1956：电子元器件失效分析 -
言翁13886756544…… 一般的仪器都会一点点的误测率,但既然有五道测试,基本可以消除这种误测,否则就说明你的仪器实在太烂啦!然后就是自动挑选机的问题,有没有误动作的可能性,最好找一个比较大的不良品样本,对机器进行测试.如果上面两项都没有问题,那说明运输和贮存可能初相了问题,当然半导体器件受环境因素的影响是比较小的.最后就有可能是客户和你们的仪器有一定差距,从而造成这种情况.当然还有一种情况,就是本身半导体器件质量有问题,漏电测试是反向加电压,可能就是在测试的过程中器件被击穿的.解决的办法还是要等真正的原因查找出来再说了.
@巩梁1956：工作发现有一颗IC失效怎么分析电路 -
言翁13886756544…… 1.了解工作环境.重点关注与你产品互连的设备、走线、电源、大功率设备、...
@巩梁1956：LED芯片如何检测失效与否? -
言翁13886756544…… 采用LED全自动抽测探针台实现一键式LED芯片失效检测,适用于LED已切割晶粒的全自动点测,集成了智能针痕监控、自动化无损清针(自用专利技术)在内的多项自动化技术可大幅节省人工.
@巩梁1956：桥堆做失效分析时过流失效和过压失效如何和区分? -
言翁13886756544…… 你可以在X光下看到,芯片上会有异常点(黑色的点),在芯片的中间部分出现则是过流失效,在芯片的边缘出现则是过压失效.QQ573257782
@巩梁1956：如何知道IC被静电破坏,外观可看的出吗?测验IC的方法有那些. 谢谢 -
言翁13886756544…… IC被经典破坏,外观是看不出来的,在内部也只是被打出一个小小的斑点而已,很难发现,甚至有的IC功能还是正常的,建议用晶体管图示仪测试每个引脚(或怀疑的引脚)曲线,和正常的IC曲线进行对比,当偏差大于5%的时候就要重点关注了,这是我参加失效分析培训时学到的,实际分析中还未使用过,兄弟有兴趣可以试试.
@巩梁1956：用万用表检测IC芯片的几种简易方法 -
言翁13886756544…… 用万用表检测IC芯片的几种简易方法 1.离线检测 测出IC芯片各引脚对地之间的正,反电阻值.以此与好的IC芯片进行比较,从而找到故障点. 2.在线检测 1)直流电阻的检测法同离线检测一样但要注意: (a)要断开待测电路板上的电源; (b)...
@巩梁1956：在光学显微镜下可以观察到的病毒有多少?大概目前已知病毒种量的多少? -
言翁13886756544…… 病毒是颗粒很小、以纳米为测量单位、结构简单、寄生性严格,以复制进行繁殖的一类非细胞型微生物.多数要用电子显微镜才能观察到 光学显微镜的最高分辨率是0.2um 看不到病毒
@巩梁1956：失效分析的步骤有哪些? -
言翁13886756544…… 失效分析方法与步骤1.背景资料的收集和分析样品的选择2.失效零件的初步检查(肉眼检查及记录)3.无损检测4.机械性能检测5.所有试样的选择、鉴定、保存以及清洗6.宏观检验和分析(断裂表面、二...
