xps光谱分析参照表
@全坚3076：X射线荧光光谱仪分析原理??? -
荆祁19439084099…… X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成.X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品.受激发的样品中的每一种元素会放产生二次X射线(即X荧光),并且不同的元素所放射出的二次X射线(X荧光)具有特定的能量特性或波长特性.探测系统测量这些放射出来的二次X射线(X荧光)的能量及数量.然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量. 测出X荧光射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类,这就是X荧光射线定性分析的基础. 此外,X荧光射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析.
@全坚3076：拉曼光谱和xps作用有什么不同 -
荆祁19439084099…… 拉曼主要用来测物质内部配位体的,如八面体,四面体等等; XPS主要测材料的价键,如得失电子等.同时由于某种元素往往呈现出特别的结合能的峰,所以还可以用XPS来测定材料里元素含量的比例. 纯手打,望采纳.
@全坚3076：光谱数据预处理在spss中怎么分析 -
荆祁19439084099…… 可以采用单因素方差分析 不知道你用的什么版本spss 首先输入数据,组别为一列,具体数据为一列 分析》均值比较》ANOVA》把组别放到因子框中,把具体数据放到因变量框中》选择里选择描述和方差分析》两两分析选择LSD和T3》其他不变比较就可以.
@全坚3076：锂和铝的基态光谱项和光谱支项 -
荆祁19439084099…… 锂和铝的基态光谱项和光谱支项 基态的光谱项是31S0,其中n=3,S=+1/2+(-1/2)=0,L=S,J=S+L=0+0=0 第一激发态:当电子的自旋方向不变时,n=3,S=+1/2+(-1/2)=0,L=P,J=S+L=0+1=1 光谱项为31P1 当自旋方向改变时,n=3,S=+1/2+(+1/2)=1,L=P,J=S+L=1+1=2,或1+1-1=1,或1+1-2=0,光谱项为33P2,或33P1,或33P0
@全坚3076：求助xps图谱分析 -
荆祁19439084099…… 你可以找一本 X射线光电子潽学 的书来看看,如果你打算了解这门学问的话,但是如果你仅仅是想分析谱图,那么就简单了,首先你做出的谱图如果是含有多种元素的图,那就要先完成分峰这个任务,找一个分峰的软件,我用的是XPS PEAKFIT,然后查到各个峰的位置,也就是找到横坐标:结合能(Binding energy),再和标准的峰位表进行比对,就可以确定这个峰到底是对应什么元素了.大体就是这个思路,因为我做的是稀磁半导体的掺杂,所以我使用XPS来确定我掺杂物的价态,所以我简要说了我的工作所涉及的步骤,XPS还有其他很多用处,我不了解也不便多说,如果你的工作和我的差不多,那么我说的对你还是会有所帮助的
@全坚3076：xps图谱怎样分析表面化学价态 -
荆祁19439084099…… 不同离子的结合能不一样,通过你已知的离子种类,找标准图谱或者自己算一下结合能,可以估算出每一个峰对应的离子的价态和能级.
@全坚3076：如何应用红外光谱法对乙烯丙烯共聚物各组分的比例进行测定 -
荆祁19439084099…… 91 红外光谱法分析苯乙烯系树脂组分含量 自特征吸收峰处的峰高值(hSt 和 hAN).以两特征峰的峰高的比值(hSt/hAN),即吸光度比值(A697cm-1/ A2243cm-1 )为纵坐标,以对应共混物中丙烯腈组分摩 尔分数的倒数(1/xAN)为横坐标...
@全坚3076：红外光谱怎么导出excel数据 -
荆祁19439084099…… 可以使用一些专业的红外光谱分析软件,如OMNIC、Delta等进行数据导出.具体操作方法如下:1. 打开红外光谱分析软件,导入需要处理的文件.2. 根据实际需求对样品进行预处理和处理,并在菜单栏中选择“数据”或“File”-》＂Export＂...
@全坚3076：如何根据红外光谱图进行聚合物未知结构的鉴定 -
荆祁19439084099…… 如何利用红外光谱进行未知物结构的测定 测定未知物的结构,是红外光谱法定性分析的一个重要用途.如果未知物不是新化合物,可以通过两种方式利用标准谱图进行查对: (1)查阅标准谱图的谱带索引,与寻找试样光谱吸收带相...
@全坚3076：x射线荧光光谱仪的工作原理 -
荆祁19439084099…… X射线光电子能谱分析 X射线光电子能谱法(X-ray Photoelectron Spectrom-----XPS)在表面分析领域中是一种崭新的方法.虽然用X射线照射固体材料并测量由此引起的电子动能的分布早在本世纪初就有报道,但当时可达到的分辩率还不足以观...
荆祁19439084099…… X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成.X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品.受激发的样品中的每一种元素会放产生二次X射线(即X荧光),并且不同的元素所放射出的二次X射线(X荧光)具有特定的能量特性或波长特性.探测系统测量这些放射出来的二次X射线(X荧光)的能量及数量.然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量. 测出X荧光射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类,这就是X荧光射线定性分析的基础. 此外,X荧光射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析.
@全坚3076：拉曼光谱和xps作用有什么不同 -
荆祁19439084099…… 拉曼主要用来测物质内部配位体的,如八面体,四面体等等; XPS主要测材料的价键,如得失电子等.同时由于某种元素往往呈现出特别的结合能的峰,所以还可以用XPS来测定材料里元素含量的比例. 纯手打,望采纳.
@全坚3076：光谱数据预处理在spss中怎么分析 -
荆祁19439084099…… 可以采用单因素方差分析 不知道你用的什么版本spss 首先输入数据,组别为一列,具体数据为一列 分析》均值比较》ANOVA》把组别放到因子框中,把具体数据放到因变量框中》选择里选择描述和方差分析》两两分析选择LSD和T3》其他不变比较就可以.
@全坚3076：锂和铝的基态光谱项和光谱支项 -
荆祁19439084099…… 锂和铝的基态光谱项和光谱支项 基态的光谱项是31S0,其中n=3,S=+1/2+(-1/2)=0,L=S,J=S+L=0+0=0 第一激发态:当电子的自旋方向不变时,n=3,S=+1/2+(-1/2)=0,L=P,J=S+L=0+1=1 光谱项为31P1 当自旋方向改变时,n=3,S=+1/2+(+1/2)=1,L=P,J=S+L=1+1=2,或1+1-1=1,或1+1-2=0,光谱项为33P2,或33P1,或33P0
@全坚3076：求助xps图谱分析 -
荆祁19439084099…… 你可以找一本 X射线光电子潽学 的书来看看,如果你打算了解这门学问的话,但是如果你仅仅是想分析谱图,那么就简单了,首先你做出的谱图如果是含有多种元素的图,那就要先完成分峰这个任务,找一个分峰的软件,我用的是XPS PEAKFIT,然后查到各个峰的位置,也就是找到横坐标:结合能(Binding energy),再和标准的峰位表进行比对,就可以确定这个峰到底是对应什么元素了.大体就是这个思路,因为我做的是稀磁半导体的掺杂,所以我使用XPS来确定我掺杂物的价态,所以我简要说了我的工作所涉及的步骤,XPS还有其他很多用处,我不了解也不便多说,如果你的工作和我的差不多,那么我说的对你还是会有所帮助的
@全坚3076：xps图谱怎样分析表面化学价态 -
荆祁19439084099…… 不同离子的结合能不一样,通过你已知的离子种类,找标准图谱或者自己算一下结合能,可以估算出每一个峰对应的离子的价态和能级.
@全坚3076：如何应用红外光谱法对乙烯丙烯共聚物各组分的比例进行测定 -
荆祁19439084099…… 91 红外光谱法分析苯乙烯系树脂组分含量 自特征吸收峰处的峰高值(hSt 和 hAN).以两特征峰的峰高的比值(hSt/hAN),即吸光度比值(A697cm-1/ A2243cm-1 )为纵坐标,以对应共混物中丙烯腈组分摩 尔分数的倒数(1/xAN)为横坐标...
@全坚3076：红外光谱怎么导出excel数据 -
荆祁19439084099…… 可以使用一些专业的红外光谱分析软件,如OMNIC、Delta等进行数据导出.具体操作方法如下:1. 打开红外光谱分析软件,导入需要处理的文件.2. 根据实际需求对样品进行预处理和处理,并在菜单栏中选择“数据”或“File”-》＂Export＂...
@全坚3076：如何根据红外光谱图进行聚合物未知结构的鉴定 -
荆祁19439084099…… 如何利用红外光谱进行未知物结构的测定 测定未知物的结构,是红外光谱法定性分析的一个重要用途.如果未知物不是新化合物,可以通过两种方式利用标准谱图进行查对: (1)查阅标准谱图的谱带索引,与寻找试样光谱吸收带相...
@全坚3076：x射线荧光光谱仪的工作原理 -
荆祁19439084099…… X射线光电子能谱分析 X射线光电子能谱法(X-ray Photoelectron Spectrom-----XPS)在表面分析领域中是一种崭新的方法.虽然用X射线照射固体材料并测量由此引起的电子动能的分布早在本世纪初就有报道,但当时可达到的分辩率还不足以观...
