xrd会破坏样品吗
@查琬1212：请教薄膜样品做XRD、SEM和原子力显微镜测试的先后顺序? -
后国13224171728…… XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序.1 XRD(X-ray diffraction)是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构.2 SEM(扫描电子显微镜)是一种微观性貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像.3 AFM (原子力显微镜)是一种表面观测仪器,与扫描隧道显微镜相比,能观测非导电样品.XRD通常薄膜厚度不够的话,需要剥离研磨制成粉末样品.SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以.测试时通常是选择同批次,同条件的几个样品分别去测形貌和组分.按照预约测试时间来安排测试顺序.
@查琬1212：请教xrd制样的问题~
后国13224171728…… 磨细!XRD是个物理性的测试,测量后也不会破坏催化剂本身.填不好就研细了填好,对你所需的晶型晶粒尺寸结果没有影响从20-80扫就行啦,也有文献只扫到60的
@查琬1212：SEM、TEM、TG、XRD、AFM、红外光谱,这几个分别是测什么的? -
后国13224171728…… 测什么百度一下吧,应该都有详细的测试原理及项目.区别应该是 SEM和TEM和AFM,越来越高级,放大倍数越来越高.XRD和红外光谱这两个是没什么关系的,xrd是测试晶体结构的,可以测试晶体结构的,对于可以看出你的材料是什么.红外是靠红外吸收峰的位置与强度反映了分子结构上的特点,可以用来鉴别未知液态水的红外光谱物的结构组成或确定其化学基团;而吸收谱带的吸收强度与化学基团的含量有关,可用于进行定量分析和纯度鉴定.l红外主要用于有机化合物的结构鉴定在有机化学、生物化学、药物学、环境科学等许多领域.
@查琬1212：如何防止xrd制样过程中载物玻片的损坏 -
后国13224171728…… 样品量多吗?多的话就和普通做XRD一样制样;如果量很少的话,那就用乙醇分散,然后滴在略带凹槽的玻璃片上,让乙醇挥发干后再作xrd.
@查琬1212：求一种测量膜厚的方法 -
后国13224171728…… 千分尺测量即可
@查琬1212：样品表面吸附了有机物对XRD测量结果有何影响?我的样品是在石蜡中过滤并用甲苯洗过后的催化剂 -
后国13224171728…… 你的具体样品那样,不太清楚.不过,升温处理(焙烧),在不破坏原催化剂的情况下,有机物应该都可以除去吧.XRD,测晶型,不会有影响.
@查琬1212：请问用什么仪器测复合物中组分含量?
后国13224171728…… 还有不破坏的方法去测,可以用XRD测量计算(平滑,扣背景,精修后,寻峰,积分,查卡片系数(类似色谱中的校正系数))还可以多点采样用电子能谱测表面含量还有XRF亦可测它们的含量
@查琬1212：90%以上钛粉的检测方法有谁知道? -
后国13224171728…… 1、根据应用要求和设备工艺状况,正确选用不同种类热熔胶. 2、根据热熔胶厂商推荐的工艺参数设定温度、压力和用胶量等,可由有经验的员工适当调整,切勿随意变动. 3、保持胶箱清洁,加胶后应马上将胶箱盖好,注意不要把离型纸等...
@查琬1212：求教单晶与多晶的区别? -
后国13224171728…… 一、构成不同 1、单晶:结晶体内部的微粒在三维空间呈有规律地、周期性地排列,或者说晶体的整体在三维方向上由同一空间格子构成,整个晶体中质点在空间的排列为长程有序. 2、多晶:是众多取向晶粒的单晶的集合. 二、特点不同 1...
@查琬1212：xrd图谱衍射峰代表什么
后国13224171728…… 代表鉴别物相.首先从峰位入手,如果峰位能对上,初步判定为该物质;其次,还要看各衍射峰的强度相对比是否也与标准卡片上的峰强比一致,如果都一样则可肯定为该物质.峰形与样品是晶体还是非晶体有很大关系,如果是馒头峰则为标准的非晶,如果是明锐的尖峰则为晶体,峰越尖锐,半高宽越小,则表明晶粒越小,结晶越好.当然峰强的大小也能看出物质的含量多少,大致上,峰越强,物质含量越多.同样晶粒大小,晶格畸变,内应力的影响也会导致峰形的变化(如宽化、不对称变化等)和峰位的偏移.
后国13224171728…… XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序.1 XRD(X-ray diffraction)是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构.2 SEM(扫描电子显微镜)是一种微观性貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像.3 AFM (原子力显微镜)是一种表面观测仪器,与扫描隧道显微镜相比,能观测非导电样品.XRD通常薄膜厚度不够的话,需要剥离研磨制成粉末样品.SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以.测试时通常是选择同批次,同条件的几个样品分别去测形貌和组分.按照预约测试时间来安排测试顺序.
@查琬1212：请教xrd制样的问题~
后国13224171728…… 磨细!XRD是个物理性的测试,测量后也不会破坏催化剂本身.填不好就研细了填好,对你所需的晶型晶粒尺寸结果没有影响从20-80扫就行啦,也有文献只扫到60的
@查琬1212：SEM、TEM、TG、XRD、AFM、红外光谱,这几个分别是测什么的? -
后国13224171728…… 测什么百度一下吧,应该都有详细的测试原理及项目.区别应该是 SEM和TEM和AFM,越来越高级,放大倍数越来越高.XRD和红外光谱这两个是没什么关系的,xrd是测试晶体结构的,可以测试晶体结构的,对于可以看出你的材料是什么.红外是靠红外吸收峰的位置与强度反映了分子结构上的特点,可以用来鉴别未知液态水的红外光谱物的结构组成或确定其化学基团;而吸收谱带的吸收强度与化学基团的含量有关,可用于进行定量分析和纯度鉴定.l红外主要用于有机化合物的结构鉴定在有机化学、生物化学、药物学、环境科学等许多领域.
@查琬1212：如何防止xrd制样过程中载物玻片的损坏 -
后国13224171728…… 样品量多吗?多的话就和普通做XRD一样制样;如果量很少的话,那就用乙醇分散,然后滴在略带凹槽的玻璃片上,让乙醇挥发干后再作xrd.
@查琬1212：求一种测量膜厚的方法 -
后国13224171728…… 千分尺测量即可
@查琬1212：样品表面吸附了有机物对XRD测量结果有何影响?我的样品是在石蜡中过滤并用甲苯洗过后的催化剂 -
后国13224171728…… 你的具体样品那样,不太清楚.不过,升温处理(焙烧),在不破坏原催化剂的情况下,有机物应该都可以除去吧.XRD,测晶型,不会有影响.
@查琬1212：请问用什么仪器测复合物中组分含量?
后国13224171728…… 还有不破坏的方法去测,可以用XRD测量计算(平滑,扣背景,精修后,寻峰,积分,查卡片系数(类似色谱中的校正系数))还可以多点采样用电子能谱测表面含量还有XRF亦可测它们的含量
@查琬1212：90%以上钛粉的检测方法有谁知道? -
后国13224171728…… 1、根据应用要求和设备工艺状况,正确选用不同种类热熔胶. 2、根据热熔胶厂商推荐的工艺参数设定温度、压力和用胶量等,可由有经验的员工适当调整,切勿随意变动. 3、保持胶箱清洁,加胶后应马上将胶箱盖好,注意不要把离型纸等...
@查琬1212：求教单晶与多晶的区别? -
后国13224171728…… 一、构成不同 1、单晶:结晶体内部的微粒在三维空间呈有规律地、周期性地排列,或者说晶体的整体在三维方向上由同一空间格子构成,整个晶体中质点在空间的排列为长程有序. 2、多晶:是众多取向晶粒的单晶的集合. 二、特点不同 1...
@查琬1212：xrd图谱衍射峰代表什么
后国13224171728…… 代表鉴别物相.首先从峰位入手,如果峰位能对上,初步判定为该物质;其次,还要看各衍射峰的强度相对比是否也与标准卡片上的峰强比一致,如果都一样则可肯定为该物质.峰形与样品是晶体还是非晶体有很大关系,如果是馒头峰则为标准的非晶,如果是明锐的尖峰则为晶体,峰越尖锐,半高宽越小,则表明晶粒越小,结晶越好.当然峰强的大小也能看出物质的含量多少,大致上,峰越强,物质含量越多.同样晶粒大小,晶格畸变,内应力的影响也会导致峰形的变化(如宽化、不对称变化等)和峰位的偏移.
